Nexview™ NX2 - Optisches 3D-Oberflächenprofilometer
Das NexView optische 3D-Oberflächenprofilometer ermöglicht die Messung unterschiedlichster Oberflächen – von extrem glatten bis hin zu sehr rauen – mit einer Genauigkeit im Sub-Nano-meterbereich, und zwar unabhängig vom Sichtfeld bzw. Objektiv. Nexview™ Logo
Das nach ISO 25178-604 Teil D arbeitende Messgerät erlaubt die Messung von Ebenheit, Rauheit, großen Stufen und Segmenten, dünnen Schichten und großen Steigungen mit Merkmalshöhen von unter 1 nm bis zu 20000 µm.
• Kompromisslos – ein Profilometer, das sich für alle Oberflächentypen von rau bis extrem glatt eignet, einschließlich dünner Schichten, hoher Steigungen oder großer Stufen.
• Prüfmittelfähig – hervorragende Genauigkeit und Wiederholbarkeit auch für anspruchsvollste Anwendungen in der Fertigung.
• Spezielle SureScan™ oder SmartPSI™ Technologie – stabiler Betrieb in praktisch allen Umgebungen auch ohne Schwingungsisolation oder im Sub-Ångström Bereich.
• Oberflächenparameter nach ISO 25178.
• Komplett neue graphische Analyse- und Bediensoftware – verbesserte Funktionalität bei geringerem Schulungsaufwand.
• Optimierte Konstruktion – keine manuellen Bedienelemente; vollständige Automatisierung möglich.